1樓：北京得利特
油體積電阻率測定儀按dl421.91《絕緣油體積電阻率測定法》的電力行業標準為專
依據，根據有源屬電橋的原理研製成功的一種新型電阻率測定專用儀器。具有結構簡單、線性度好、靈敏度高、測試結果穩定、操作安全等優點，其效能遠高於通常的電壓電流法。儀器由引數測量系統、油杯加熱控溫系統兩部分組成，具有自動計時、液晶顯示功能。
可測量絕緣油體積電阻率。
2樓：匿名使用者
四探針電阻率測來試儀也源有很多種，例如高溫的或bai者常溫的，
du不同的四探針電阻zhi率測試
儀針對不同的材料dao測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
四探針法電阻率測試，四探針有什麼特點？
四探針電阻率測試儀主要是測什麼電阻率的？
3樓：蘇州晶格電子
四探針電阻率測試儀配合不同的探頭可以測的材料也不同。配高耐磨的碳化鎢探針探頭，以測試矽等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率；配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或pe膜等基底上導電塗層膜，如金屬鍍膜、噴塗膜、ito膜、電容卷積膜等材料的薄膜塗層電阻率；配專用箔上塗層探頭，也可測試鋰電池電池極片等箔上塗層電阻率。
4樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀也有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
5樓：匿名使用者
四探針測試儀測矽片電阻率時，n型和p型的矽片都可以測。
比如用於做電力元件的矽片是n型的，用於做太陽能電池的矽片是p型的（有的），這些矽片用四探針測試儀都能測。
6樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀,依據樣品性質不同，測試量程也不同，一般分為：
ft-361低量程，用於測量低阻性塗層，薄膜，鋁箔等半導體材料，方阻量程：10^6～2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^7～2×10^6ω-cm
ft-341通用型中間段量程；可以測量大部分半導體材料；
方阻量程：10^5～2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^6～2×10^6ω-cm
3.ft-371高阻性半導體基底層
方阻量程：10^4～1×10^7ω/□；電阻率範圍10^5～2×10^8ω-cm
7樓：匿名使用者
主要是測方塊電阻,可以換算電阻率
方塊電阻和表面電阻率的區別,體積電阻率,表面電阻率,線電阻率,電阻有什麼區別
在表面電bai阻率的表示中有的du單位用 這個zhi說法必須有前提,前提就是 dao單位方塊下的電阻 內否則這個容說法不對。因為 表示的是電阻 方塊電阻和表面電阻率表示相同的物件。一般將表面電阻率解釋成單位方塊內的電阻。故簡稱方塊電阻。供參考 方塊電阻和表面電阻率的區別?在表面電阻率的表示中有的單位...
什麼是水的電阻率和水的電導率如何測量
電阻就是介質阻礙電流通過的一個係數,電阻越大,電流通過時的損耗越大 電導率是它的倒數,電導數越小,電流越容易通過,損耗也越小。電導率和電阻率如何換算 電導率的倒數為電阻率值,二者之間的關係成倒數關係。水的導電性即水的電阻的倒數,通常用它來表示水的純淨度。對於各向同性介質,電導率是標量 對於各向異性介...
一般使用的電阻率的單位是什麼電阻率的單位是？符號是？
定義 電阻率 resistivity 是用來表示各種物質電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下，有公式r l s，其中 就是電阻率，l為材料的長度，s為面積。可以看出，材料的電阻大小與材料的長度成正比，而與其截面積成反比。由上式可知電阻率的定義式 rs l，國際單位制中，電阻率的單位是歐姆 米 m 常...