在掃描電鏡表徵中，為了克服絕緣體樣品的荷電效應，可以採取哪些方法

1樓：匿名使用者

掃描電鏡克服絕緣體bai荷電，du是個經典的問題zhi首先從樣品製備上來說dao，保證樣品儘量薄版且不團聚（對粉末樣權品），這有助於電荷順利通過導電膠及樣品臺流走；表面噴金（碳）處理，是樣品表面形成導電膜，有助於電子的流走。

對於電鏡引數和模式選擇來說，選用盡量低的束流和電壓，如果樣品很薄且與導電膠接觸良好，也可以選用高壓擊穿樣品，消除荷電；減少電子在樣品上的駐留時間，例如部分電鏡拍照時有整合掃描的模式，可以有效減少電荷在樣品表面的累積。

對於解析度要求不高的樣品可以直接選用背散射電子成像，背散射電子的訊號很強，可以有效較少荷電對影象的干擾。

要用掃描電鏡觀察不導電樣品，可以採取哪些措施避免放電對影象清晰的影響

2樓：匿名使用者

掃描電鏡對不bai導電樣品的du處理是比較常見zhi的問題，可以採dao用的方法有幾種回

。儘量將塊狀樣品做小

答，甚至做成粉末，使樣品與樣品座的接觸良好。

對觀察樣品進行鍍金或噴碳處理，使樣品表面形成導電膜，利於電荷流走。

最好再用導電膠將噴碳或噴金後的樣品表面與樣品座（臺）連線，以減少電子積累。

對於無法很好解決放電效應對影象影響的，可以加快掃描速度，或用整合模式採集影象，以抑制電荷積累。

用掃描電鏡的背散射探頭採集影象，幾乎不會有放電效應，因為背散射訊號強度比較高，不會為放電電荷干擾。

噴金和噴碳有什麼差別？應用有什麼不同？

3樓：徠卡顯微系統

噴碳和噴金都是常用的手段，目的是為了消除掃描電鏡觀察不導電樣品時的荷電效應。噴金主要用於形貌觀察，而噴碳通常用於需要能譜分析時，否則金的訊號會掩蓋樣品的能譜訊號。

掃描電鏡樣品的處理

4樓：匿名使用者

關鍵看你的實驗目的是什麼。

如果a樣品和b樣品是兩個單獨的實驗，不用做橫向對比，那麼用不同專的制樣方法沒有什麼屬問題。

如果兩個樣品在合成製備過程中用了不用的方法或者條件，要用sem做橫向比對，製備的結果。那麼，最好用同樣的制樣方法。否則，即使你在sem下看到了明顯不同的結果，你也難以判斷是由於sem制樣方法不同造成的，還是，由於合成製備方法不同造成的影響。

如果超聲是你樣品合成製備過程的一部分，因而，有必要比較超聲前和超聲後樣品的區別。那麼，對於兩個平行樣品，一個樣品經過超聲處理，一個樣品直接乾燥，是很合理的實驗安排。可以**超聲過程（工藝）對最終結果的影響。

總之，對於sem儀器或者這個表徵手段來說，超聲或者不超聲，做出來的樣品，是可以放到一起觀察的。問題的關鍵在於你想知道什麼。